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Difracción de radiografía ADX-2500 (XRD)
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Difracción de radiografía
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La difracción de radiografía ADX-2500 (XRD) se diseña para el uso en la medida de la microestructura, la prueba y las investigaciones profundizadas de la investigación. Con diversos accesorios y el control de correspondencia y cálculo de software, ADX-2500 XRD es un sistema de la difracción según los requisitos prácticos en muchos campos.
El difractómetro de la radiografía ADX-2500 proporciona el análisis de estructura de la sola muestra cristalina, policristalina y amorfa. ADX-2500 X Ray Diffraction es capaz del siguiente: análisis cualitativo de la fase y análisis cuantitativo (RIR, calibración estándar interna, calibración estándar externa, criterio aditivo), indexación de direcciones del modelo, determinación y refinamiento de célula de unidad, tamaño del cristalito y determinación de la tensión, colocación del perfil y refinamiento de la estructura, determinación de la tensión residual, análisis de la textura (ODF expresa la figura tridimensional del polo), estimación de la cristalinidad de áreas máximas, análisis de la película fina y otros.