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Nuevo microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo

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ZEISS introduce su nuevo microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo (FE-SEM) ZEISS GeminiSEM 450, que combina proyección de imagen ultraalta de la resolución con la capacidad para realizar analytics aumentado mientras que mantiene flexibilidad y facilidad de empleo.

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Con este dispositivo, la ventaja de usuarios de la proyección de imagen sensible de alta resolución, superficial y de un sistema óptico que los apoya idealmente en la obtención de los mejores resultados-especial analíticos al trabajar con bajas tensiones. espectroscopia de radiografía del análisis de la difracción del retrodifusor del electrón de la Alto-producción (EBSD) y de la baja tensión (EDS) entregar los resultados excelentes debido a la capacidad del instrumento a exacto e independientemente tamaño de punto del control y corriente del haz. Con el nuevo diseño, es posible trabajar siempre bajo condiciones optimizadas como el usuario puede cambiar inconsútil entre la proyección de imagen y los modos analíticos en el tacto de un botón.