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#Tendencias de productos
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Se introducen importantes mejoras en las ofertas de flujo de trabajo para las instalaciones principales de Ciencia de Materiales
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ZEISS introduce nuevas capacidades para los microscopios de haz de iones ZEISS, que cubren los avances en análisis, tomografía, preparación de muestras e integridad de datos. Esto ofrece nuevas posibilidades en materiales de ingeniería, materiales energéticos, materiales blandos y geociencias, cubriendo megatendencias en la fabricación de aditivos, investigación en baterías y fotovoltaica, materiales de construcción y nanomateriales
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Analítica
La introducción de las soluciones SIMS para el análisis elemental en toda la familia ZEISS Crossbeam añade una capacidad analítica significativa a los microscopios de haz iónico ZEISS. Esto se complementa con la nueva Espectrometría de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo (ToF-SIMS) introducida para el último miembro de la familia ZEISS Crossbeam, ZEISS Crossbeam 350, así como en ZEISS Crossbeam 550
Tomografía
Como parte de la introducción del nuevo microscopio electrónico de barrido de haz de iones focalizado (FIB-SEM), ZEISS Crossbeam 350, ZEISS introduce flujos de trabajo mejorados para la tomografía 3D para asegurar la generación de volumen de datos 3D líder en su clase. La medición cuantificada y calibrada del espesor del corte en z permite una reconstrucción casi perfecta de los cortes de tomograma en un volumen reconstruido. Una actualización del paquete de hardware y software ZEISS Atlas 5 mejora el análisis 3D (difracción estática de retrodispersión de electrones (EBSD)), los flujos de trabajo correlativos y la definición del espesor del corte. Esta llamada "tecnología True Z" garantiza una tomografía FIB-SEM de alta calidad
Preparación de la muestra
La nueva estación de carga y portamuestras para la preparación de láminas de microscopía electrónica de transmisión (TEM) facilita el flujo de trabajo de preparación de láminas TEM y garantiza una transición sin problemas de la muestra al TEM para su posterior análisis
Integridad de los datos
La adquisición de datos de alta velocidad y alta calidad se complementa con el lanzamiento de ZEISS ZEN Intellesis, un software de segmentación basado en el aprendizaje automático. Los conjuntos de datos de ZEISS Crossbeam 3D son totalmente compatibles con esta suite de software de procesamiento y segmentación de imágenes. Esto asegura que la integridad de los datos se mantenga a medida que se mejora la velocidad y la calidad de la adquisición de datos. La clasificación basada en texturas proporcionada por este software permite extraer información previamente oculta de muestras que van desde compuestos de fibra hasta rocas de yacimientos.