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Deja de comprometer los resultados de tu SEM: cómo el fresado por haz de iones de amplio alcance elimina los artefactos en la preparación de muestras

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Aprovecha todo el potencial de tu microscopio electrónico de barrido (SEM) de alta resolución con el fresado por haz de iones amplio (BIB), un método revolucionario para la preparación de muestras que elimina los artefactos habituales.

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El pulido mecánico tradicional puede comprometer los resultados al provocar interfaces difuminadas y arañazos, especialmente en materiales complejos. El fresado BIB, sin embargo, utiliza iones de argón para eliminar suavemente el material superficial mediante pulverización catódica, preservando así la integridad de la muestra sin contacto físico. Este método destaca a la hora de revelar la verdadera composición y estructura de los materiales, ya sea en el análisis de placas de circuitos multicapa, electrodos de baterías o compuestos reforzados con fibra. A diferencia de los métodos mecánicos, el fresado BIB ofrece patrones de difracción de retrodispersión de electrones más nítidos y mapas de espectroscopia de rayos X de dispersión de energía más limpios, libres de contaminación y deformaciones superficiales.

Además, mejora la eficiencia del laboratorio al proporcionar resultados consistentes y de alta calidad, reduciendo la necesidad de un pulido manual que requiere mucho tiempo. Tanto si te dedicas a la fabricación de productos electrónicos, al sector aeroespacial o a cualquier industria que requiera un análisis microestructural preciso, el fresado BIB es la solución universal para tus muestras más complejas. Descubre cómo sistemas como el Hitachi IM4000II pueden transformar tu proceso de preparación de muestras con velocidades de fresado más rápidas y refrigeración criogénica opcional.

¿Listo para ver la diferencia? Para leer el blog completo, sigue este enlace: https://hte.hitachi-hightech.com/blog/stop-compromising-your-sem-results-how-broad-ion-beam-milling-eliminates-sample-prep-artifacts